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全自动三离子束抛光切割仪 EM TIC 3X

全自动三离子束抛光切割仪 EM TIC 3X

  • 产品介绍:全自动三离子束抛光切割仪 EM TIC 3X在没有任何变形或损伤的情况下揭开样品内部真实结构信息,在使用徕卡EM TIC3X之前,这类工作从未变得如此之简单。
  • 产品型号:
  • 更新时间:2024-07-18
  • 厂商性质:生产厂家
  • 产品品牌:其他品牌
  • 产品厂地:广州市
  • 访问次数:3645
  • 在线留言 4006681210

产品介绍

品牌其他品牌价格区间面议
仪器种类金相切割机产地类别国产

全自动三离子束抛光切割仪 EM TIC 3X

几乎任何材质样品都可获得高质量截面,在没有任何变形或损伤的情况下揭开样品内部最真实结构信息,在使用徕卡EM TIC3X之前,这类工作从未变得如此之简单。

徕卡EM TIC 3X三离子束切割仪适宜处理软/硬复合、带有孔缝结构、热敏感性、脆性及非均质样品,获得样品截面,从而进行扫描电子显微镜(SEM),微区分析(EDS,WDS,Auger,EBSD)及原子力显微镜或扫描探针显微镜(AFM,SPM)检测。

三离子束(分别独立控制),冷冻样品台及多样品台,确保离子束对样品处理高效,切割区域宽且深,从而获得高质量截面切割结果。

全自动三离子束抛光切割仪 EM TIC 3X
 

为您带来的优势

 

  

性能

*的三离子束系统,可获得佳的截面处理质量,并可高效获得宽且深的切割区域,大大降低工作时间。并可实现在一次处理过程中最多处理3个样品。因此对有高通量需求的实验室,徕卡EM TIC 3X是佳解决方案。

样品托

多种多样的样品托,适合于各类尺寸样品。

  

可装配系统

根据您的样品制备需要,可以有针对性地在徕卡EM TIC 3X上装配一体化设计样品台-标准样品台,多样品台或冷冻样品台。

样品TOPO结构清晰可见

除了剖面切割,使用同一样品托还可对样品进行清洁及增强衬度的功能。

  

冷冻样品台

针对温度敏感型样品如橡胶或水溶性高分子聚合纤维等,可以使用冷冻样品台对样品进行低温下处理,获得高质量处理结果。样品托和挡板的温度都可达到-150° C。

 

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